heise-Angebot: Embedded Testing Conference: Jetzt Vorträge einreichen

T2Covered by 1 source · first reported by Europe/UK: Tech.eu / Sifted / TNW / Silicon Republic / UKTN / Computer Weekly / heise / Golem / t3n / Maddyness / FrenchWeb at 22 Oct, 08:00 UTC

Entwickler und Tester im Embedded-Umfeld können ihre Vortragsideen bis zum 29.11. einreichen. Die Konferenz findet am 23. und 24. Februar 2027 in München statt.